產品詳情
簡單介紹：
納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope定量剛性探針，消除基于彈性懸臂的納米壓痕測試技術固有的不確定性和復雜性。
納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope直觀聯用接口，可簡便與流行的商用 AFM 的集成，包括布魯克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等。
詳情介紹：
布魯克的納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope為原子力顯微鏡領域提供了定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦表征能力。納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope與布魯克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8聯用，以擴展這些顯微鏡的表征能力。通過利用剛性測試探針，納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope消除了與懸臂基測量相關的固有限制、可變性和復雜性，從而在納米到微米尺度上提供定量和可重復的力學和摩擦特性。
剛性探針優(yōu)勢
大多數 原子力顯微鏡（AFM） 利用適當的懸臂進行力學或摩擦學測試，在將懸臂的彈性和旋轉剛度與材料對施加應力的反應分離方面提出了重大挑戰(zhàn)。納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope采用剛性測試探頭組件，允許在測試期間直接控制和測量施加的力和位移。
專有靜電力驅動
納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope利用專有的靜電力驅動和電容位移感傳感器技術，提供業(yè)界**的噪聲水平和低熱漂移，從而將性能描述到納米級的極限。
力和位移反饋控制
納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope在閉環(huán)力控制或位移控制下工作。納米力學測試儀器Hysitron TS75 TriboScope利用 78 kHz 反饋環(huán)路速率，可以響應快速材料變形瞬態(tài)事件，并忠實地再現操作員定義的測試功能。
