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德圖食品檢測(cè)儀器
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布魯克的納米力學(xué)測(cè)試儀器Hysitron IntraSpect 360為X射線顯微鏡（XRM）和同步輻射光束線帶來(lái)了定量的力學(xué)性能表征。這種獨(dú)特的系統(tǒng)可用于執(zhí)行各種力學(xué)測(cè)試，如壓痕、壓縮、疲勞和彎曲，然后可與主機(jī)顯微鏡的 2D 或 3D 圖像關(guān)聯(lián)。
**技術(shù)，實(shí)現(xiàn)*大能力
納米力學(xué)測(cè)試儀器Hysitron IntraSpect 360采用獨(dú)特的壓電稱重傳感器，結(jié)合獨(dú)具三板電容式傳感器技術(shù)。這種安排可顯著增加可用位移范圍，同時(shí)保持超低噪聲底。這種獨(dú)特的設(shè)計(jì)產(chǎn)生的熱量非常小，在接觸樣品時(shí)可提供****的穩(wěn)定性。在計(jì)算機(jī)斷層掃描研究 （μCT） 的成像過(guò)程中，這一點(diǎn)非常重要，因?yàn)閿?shù)據(jù)采集時(shí)間可能很長(zhǎng)。測(cè)試長(zhǎng)達(dá) 168 小時(shí)，與布魯克的參考頻率校正技術(shù)相結(jié)合，納米力學(xué)測(cè)試儀器Hysitron IntraSpect 360已可靠地執(zhí)行。該系統(tǒng)還包括布魯克的"執(zhí)行"**控制模塊和TriboScan軟件，用于**、反饋控制的納米機(jī)械測(cè)試和自動(dòng)數(shù)據(jù)分析。
來(lái)自南黃松原位納米壓痕測(cè)試的載荷位移數(shù)據(jù)以及測(cè)試期間獲得的一系列二維圖像切片。在縱向平面上觀察到變形時(shí)，載荷對(duì)橫向平面的壓入。
**性能的專有設(shè)計(jì)
納米力學(xué)測(cè)試儀器Hysitron IntraSpect 360具有無(wú)縫的 X 射線透明觀察窗口，可進(jìn)行無(wú)遮擋成像和便利的材料變形（包括斷裂和失效）的 μCT 研究。納米力學(xué)測(cè)試儀器Hysitron IntraSpect 360系統(tǒng)的*大力高達(dá) 10N 和 80μm，是多種材料（如復(fù)合材料、陶瓷、金屬以及天然或生物材料）內(nèi)部變形過(guò)程表征的多功能選擇。布魯克業(yè)界**的傳感器技術(shù)在材料故障的 4D 研究中提供了****的穩(wěn)定性，例如光纖矩陣接口的裂紋傳播或焊接接頭內(nèi)的空隙行為。
